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Representação oficial e exclusiva no Brasil

Akrometrix no Brasil

Metrologia de empenamento e topografia 3D para compreender como componentes, substratos, placas e conjuntos se comportam em temperatura ambiente e durante o processo térmico.

Metrologia de superfície

Dados tridimensionais para investigar deformações e controlar o processo.

A Akrometrix combina técnicas ópticas sem contato para medir empenamento, planicidade e topografia. As plataformas atendem desde componentes e packages até PCBs e painéis de grande formato.

A GR SYS representa oficialmente e com exclusividade a Akrometrix no Brasil, apoiando a definição da tecnologia, campo de medição, perfil térmico e configuração adequada à amostra.

Shadow MoiréDigital Fringe ProjectionDICMetrologia térmicaTopografia 3D

Principais sistemas Akrometrix

Plataformas térmicas e de temperatura ambiente para diferentes escalas de medição.

Sistema de metrologia térmica Akrometrix AXP 3

Metrologia térmica avançada

AXP 3

Plataforma de Shadow Moiré para medir empenamento durante ciclos térmicos, com aquecimento infravermelho superior e inferior e aquisição de alta densidade.

Amostra
Até 400 × 400 mm
Aquisição
1,7 milhão de pontos em menos de 2 s
Temperatura
Até 300 °C
Tecnologia
Shadow Moiré com phase stepping
Sistema de grande formato Akrometrix PS600T

Metrologia térmica de grande formato

PS600T

Sistema para caracterização de empenamento em substratos e conjuntos de grandes dimensões sob perfis térmicos controlados.

Amostra
Até 830 × 820 mm
Medição
Campo completo
Aquecimento
Controle térmico programável
Aplicação
Painéis e substratos de grande formato
Sistema de metrologia Akrometrix PS600S

Shadow Moiré de grande área

PS600S

Plataforma de medição para amostras de grande área, indicada à análise de planicidade e empenamento em temperatura ambiente e durante excursões térmicas.

Amostra
Até 600 × 600 mm
Tecnologia
Shadow Moiré
Medição
Sem contato
Aplicação
Grandes PCBs, painéis e substratos
Sistema compacto de metrologia Akrometrix PS200S

Metrologia térmica compacta

PS200S

Sistema compacto para pesquisa, desenvolvimento e controle de processo, voltado à medição tridimensional de empenamento em componentes e pequenas placas.

Amostra
Até 150 × 200 mm
Tecnologia
Shadow Moiré
Medição
Campo completo e sem contato
Aplicação
Componentes, packages e pequenas PCBs
Sistema de bancada Akrometrix TTSM

Shadow Moiré de bancada

TTSM

Solução de bancada para medições rápidas e repetíveis de topografia e empenamento em temperatura ambiente.

Operação
Temperatura ambiente
Tecnologia
Shadow Moiré
Medição
Área completa
Aplicação
Planicidade e coplanaridade
Sistema de metrologia de bancada Akrometrix TTSM-J

Metrologia de bancada

TTSM-J

Configuração de bancada para avaliação sem contato de amostras maiores, com análise tridimensional de superfícies e deformações.

Operação
Temperatura ambiente
Tecnologia
Shadow Moiré
Resultado
Mapa 3D da superfície
Aplicação
Substratos, PCBs e conjuntos
Sistema de bancada Akrometrix TTSM-JS

Shadow Moiré de bancada

TTSM-JS

Plataforma para inspeção dimensional de superfícies em temperatura ambiente, adequada a medições de laboratório e controle de processo.

Operação
Temperatura ambiente
Medição
Óptica e sem contato
Saída
Topografia tridimensional
Aplicação
Laboratório e controle de processo
Sistema de fim de linha Akrometrix DFP2-LS

Metrologia em fim de linha

DFP2-LS

Sistema baseado em projeção digital de franjas para inspeção rápida de topografia e empenamento integrada ao fluxo produtivo.

Tecnologia
Digital Fringe Projection
Operação
Medição óptica sem contato
Integração
Fim de linha
Aplicação
Topografia e empenamento
Sistema de projeção digital de franjas Akrometrix TTDFP2

Projeção digital de franjas

TTDFP2

Sistema de bancada para metrologia tridimensional de superfícies complexas, com medição sem contato e visualização de topografia em alta densidade.

Tecnologia
Digital Fringe Projection
Formato
Sistema de bancada
Medição
Topografia 3D sem contato
Aplicação
Superfícies complexas e pequenas geometrias
Configuração definida pela aplicação

Campo de visão, resolução, temperatura, geometria da amostra e técnica de medição devem ser avaliados em conjunto. Capacidades e opcionais podem variar conforme a configuração comercial vigente.

Conhecer o portfólio no site oficial da Akrometrix ↗

Engenharia GR SYS

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