Tomografia Computadorizada, Metrologia, Inspeção de Produtos Eletrônicos

X Ray and CT Inspection

A Nikon Metrology fabrica sistemas de inspeção de raios-X e tomografia computadorizada (CT) que permite inspeção interna de peças industriais complexas. A capacidade do CT é usada para qualificar e quantificar qualquer dimensão interna ou externa de forma precisa e não destrutiva. Os sistemas de inspeção eletrônica de raios-X respondem a uma crescente demanda por inspeções flexíveis, detalhadas e acessíveis para lidar com as demandas de componentes elétricos cada vez menores e cumprir padrões de qualidade mais rígidos.

XT V 130C

O XT V 130C é o sistema mais flexível e econômico para inspeção de produtos eletrônicos e de semicondutores. O sistema possui uma fonte de 130kv / 10 watts, fabricada pela Nikon Metrology, um design de tubo aberto globalmente reconhecido, com gerador integrado e uma imagem de alta resolução. Através de uma série de opcionais, o usuário final pode configurar o equipamento para suas próprias necessidades.

Principais benefícios:

  • Gerador de microfoco de 30-130kv com recurso reconhecimento de 2μm;

  • Ângulo real de inclinação do manipulador de 75 °, permite a visualização oblíqua para fácil inspeção de recursos internos;

  • Grande área de medição de 406x406mm;

  • Navegação intuitiva com joystick para imagens em raios-X em tempo real;

  • Com 2 monitores para medição combinada e análise em tempo real;

  • Baixo custo de manutenção, com tecnologia de tubo aberto e integrado ao gerador;

  • Preparado para inspeção CT;

XT V 160

O XT V 160 foi projetado especificamente para uso em linhas de produção e laboratórios de análise de falhas. Com um joystick de precisão, os usuários do sistema controlam o manipulador de amostras de 5 eixos. Raio-X em tempo real permite que eles naveguem intuitivamente por complexas placas de circuito impresso e componentes eletrônicos, possibilitando rastrear rapidamente os  defeitos. No modo de inspeção automatizada, as amostras podem ser inspecionadas com o maior rendimento.

Principais benefícios:

 

  • Gerador de Microfoco de 30-160kv. Tecnologia própria,  líder em microfoco;

  • Inspeção automatizada e rápida de componentes através de macros personalizáveis;

  • Navegação intuitiva com joystick para imagens em raios-X em tempo real;

  • Com 2 monitores para medição combinada e análise em tempo real;

  • Baixo custo de manutenção, com tecnologia de tubo aberto;

  • Preparado para inspeção CT;

XT H 225

Ideal para qualquer inspeção 2D e inspeção CT (Computer Thomography), a série XT H 225 oferece uma fonte de raios X de microfoco, grande volume de inspeção, alta resolução de imagem e estão prontos para a reconstrução ultra-rápida da tomografia (CT). O equipamento abrange uma ampla gama de aplicações, incluindo a inspeção de peças plásticas, peças fundidas pequenas e mecanismos complexos, bem como a pesquisa de materiais, rochas e espécies naturais.

Principais benefícios:

  • Fonte de raios X de microfoco exclusiva de 225kV, com tamanho de ponto focal de 3μm;

  • Fácil operação do sistema;

  • Baixo custo de manutenção;

  • Imagem de alta resolução e qualidade que proporcionam uma ótima visão;

  • Processamento de volume e aquisição de imagens 3D de alto desempenho;

  • Automação de inspeção simples;

Para maiores informações sobre todos os modelos e demais aplicações, consulte-nos.

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