Tomografia Computadorizada, Metrologia, Inspeção de Produtos Eletrônicos
X Ray and CT Inspection
A Nikon Metrology fabrica sistemas de inspeção de raios-X e tomografia computadorizada (CT) que permite inspeção interna de peças industriais complexas. A capacidade do CT é usada para qualificar e quantificar qualquer dimensão interna ou externa de forma precisa e não destrutiva. Os sistemas de inspeção eletrônica de raios-X respondem a uma crescente demanda por inspeções flexíveis, detalhadas e acessíveis para lidar com as demandas de componentes elétricos cada vez menores e cumprir padrões de qualidade mais rígidos.
XT V 130C
O XT V 130C é o sistema mais flexível e econômico para inspeção de produtos eletrônicos e de semicondutores. O sistema possui uma fonte de 130kv / 10 watts, fabricada pela Nikon Metrology, um design de tubo aberto globalmente reconhecido, com gerador integrado e uma imagem de alta resolução. Através de uma série de opcionais, o usuário final pode configurar o equipamento para suas próprias necessidades.
Principais benefícios:
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Gerador de microfoco de 30-130kv com recurso reconhecimento de 2μm;
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Ângulo real de inclinação do manipulador de 75 °, permite a visualização oblíqua para fácil inspeção de recursos internos;
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Grande área de medição de 406x406mm;
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Navegação intuitiva com joystick para imagens em raios-X em tempo real;
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Com 2 monitores para medição combinada e análise em tempo real;
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Baixo custo de manutenção, com tecnologia de tubo aberto e integrado ao gerador;
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Preparado para inspeção CT;
XT V 160
O XT V 160 foi projetado especificamente para uso em linhas de produção e laboratórios de análise de falhas. Com um joystick de precisão, os usuários do sistema controlam o manipulador de amostras de 5 eixos. Raio-X em tempo real permite que eles naveguem intuitivamente por complexas placas de circuito impresso e componentes eletrônicos, possibilitando rastrear rapidamente os defeitos. No modo de inspeção automatizada, as amostras podem ser inspecionadas com o maior rendimento.
Principais benefícios:
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Gerador de Microfoco de 30-160kv. Tecnologia própria, líder em microfoco;
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Inspeção automatizada e rápida de componentes através de macros personalizáveis;
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Navegação intuitiva com joystick para imagens em raios-X em tempo real;
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Com 2 monitores para medição combinada e análise em tempo real;
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Baixo custo de manutenção, com tecnologia de tubo aberto;
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Preparado para inspeção CT;
XT H 225
Ideal para qualquer inspeção 2D e inspeção CT (Computer Thomography), a série XT H 225 oferece uma fonte de raios X de microfoco, grande volume de inspeção, alta resolução de imagem e estão prontos para a reconstrução ultra-rápida da tomografia (CT). O equipamento abrange uma ampla gama de aplicações, incluindo a inspeção de peças plásticas, peças fundidas pequenas e mecanismos complexos, bem como a pesquisa de materiais, rochas e espécies naturais.
Principais benefícios:
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Fonte de raios X de microfoco exclusiva de 225kV, com tamanho de ponto focal de 3μm;
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Fácil operação do sistema;
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Baixo custo de manutenção;
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Imagem de alta resolução e qualidade que proporcionam uma ótima visão;
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Processamento de volume e aquisição de imagens 3D de alto desempenho;
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Automação de inspeção simples;
